在半导体、光电、精密制造等高端工艺领域,等离子体处理技术几乎无处不在。从刻蚀、去胶,到 PVD 沉积、PECVD 膜层增长、NF3 清腔,每一道流程的稳定与否,直接决定了产品良率和企业的生产成本。
这正是 “等离子强度分析仪” 存在的意义。它通过对 Plasma 电离强度的连续监测与数据分析,实现了等离子状态的实时可视化,为制造工艺插上 “看得见的眼睛”。
晋芯智控研发的JSC60E 系列等离子强度分析仪,正是行业内极具代表性的国产设备之一。它不仅支持单通道与多通道版本,还配备了蓝牙无线传输、1Hz 高频采样、异常阈值报警、多区域 Mapping 等一系列实用功能,为企业提供从数据采集到工艺分析的完整解决方案。
在刻蚀和去胶工艺中,Plasma 强度的稳定性直接影响到材料蚀刻深度、图形完整性和清胶效果。
JSC60E 可实时记录强度变化曲线,帮助工程师精准判断刻蚀终点或残胶是否清除,显著提升良率与重复性。
薄膜厚度不一、膜层附着力差,是沉积类工艺的常见问题。等离子强度分析仪通过强度波动判断沉积区域的不稳定因素,配合 Mapping 功能还能定位 “问题点”,为设备调试和膜层优化提供科学依据。
在 NF3 等离子清腔系统中,JSC60E 可通过设定强度阈值,实现清腔强度是否达标的自动判断,避免残留污染,提高清洁的可靠性和效率,降低过度清洗带来的能耗浪费。
等离子强度监控不仅适用于真空腔体内的低压等离子,还可配合大气等离子喷枪,实现非接触式强度检测,尤其适合高速生产线、大幅面材料的表面预处理、图层改性等工艺监控。
设备支持实时数据采集与历史数据回看功能,工程师可以快速调用过往运行数据,对比不同批次或不同工艺参数下的等离子表现,进行工艺优化或问题溯源
作为一家专注于智能工艺监测与过程控制技术的企业,晋芯智控早在等离子体分析设备尚属 “进口垄断” 的时期,就开始自主研发相关技术。
从首代模拟传感模块,到如今的 JSC60E 高频多通道数字化版本,晋芯智控累计投入研发,打造由半导体工艺、嵌入式开发、数据算法、软硬件整合等多领域的核心设备。
我们不仅提供硬件产品,更在努力打造一整套工艺数据智能化解决方案:
晋芯智控的目标不仅是成为等离子分析仪的领先制造商,更致力于推动整个等离子应用领域的 “数据智能化” 升级。
我们相信 —— 真正优秀的制造,不只是 “做得准”,更要 “看得清”。
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